Festplatten-, MEMS- und Halbleiteranwendungen

Festplatten-, MEMS- und Halbleiteranwendungen
Festplatten	Messung von lasergeätzten Markierungen
Festplattenleseköpfe	Epitaxial-Wafer
Stufenhöhe	IC-Baugruppenmessung
MEMS und Nanotechnologie

Messung von Festplatten

Übersicht
Fortschritte in der Festplattentechnologie definieren die Grenzen bei der Produktion von Datenträgern immer wieder neu. Da die Datendichte ständig zunimmt und Anwender gleichermaßen weniger Fehler erwarten, ist der Bedarf an hochwertigen Messverfahren zur Überwachung und Beschreibung der Datenträgeroberfläche sehr hoch. Taylor Hobson bietet Produkte, die speziell für die Forderung nach hoher Qualität konzipiert sind. Die automatische Beschreibung der Landezonen-Laserstrukturierung, von Kantenfehlern, Datenträger-Oberflächenfehlern sowie der Datenträgerrauheit ist sowohl auf Glas- als auch auf Aluminiumsubstraten möglich.

Talysurf CCI
Berührungsloses Hochgeschwindigkeits-3D-Messsystem mit einer vertikalen Auflösung von 10 pm (0,01 nm) und einer lateralen Auflösung von bis zu 0,4 µm. Für die Messung der Datenträgerrauheit, des Kantenabfalls, der Datenträgerfehler und der Landezonencharakterstik.

Messung

Landezone
Viele Festplatten erfordern eine speziell strukturierte Landezone, in der die Köpfe auf der Datenträgeroberfläche geparkt werden können, wenn sie nicht aktiv sind. Diese Zone wird häufig in einem Laserstrukturierungsprozess angefertigt, der mit den Messgeräten des Typs Talysurf CCI überwacht werden kann. Automatisch erfasst werden können: Volumen, Höhe, Dichte und mittlerer Durchmesser einzelner oder ganzer Strukturbereiche.

Kantenfehler
Die häufig als Außendurchmesserfehler bezeichneten Fehler werden in der Regel durch Probleme bei der Datenträgerhandhabung verursacht. Bei einem (auch sehr schwachen) Stoß gegen die Datenträgerkante kann die Verformung der Oberfläche zu Datenfehlern oder zur Unbrauchbarkeit des Datenträgers führen.

Oberflächenfehler
Dieser Begriff beschreibt eigentlich eine ganze Gruppe von Problemen, die zu Fehlern in den aufgezeichneten Daten führen können, da sie eine Vertiefung oder Erhöhung auf der Oberfläche bewirken. Diese Fehler können durch Delaminierung, Einschlüsse und Kontaktschäden verursacht werden. Das Messgerät des Typs Talysurf CCI kann diese Fehler erfassen, und zwar selbst dann, wenn ihr Seitenmaß nur ein Bruchteil eines Mikrometers beträgt und ihr vertikales Maß unterhalb
des Nanometerbereichs liegt.

Datenträgerrauheit
Dieser Parameter muss überwacht werden, da er einer der entscheidenden einschränkenden Faktoren für die Kopfhöhe ist. Durch Reduzierung der Datenträgerrauheit kann die Höhe und somit der magnetische Abstand verringert werden, der für eine hohe Datendichte auf der Festplatte erforderlich ist.

Nähere Einzelheiten hierzu erhalten Sie von dem für Sie zuständigen Vertriebsmitarbeiter