Oberflächenprodukte
Rundheitsprodukte

Festplatten-, MEMS- und Halbleiteranwendungen
Festplatten Messung von lasergeätzten Markierungen
Festplattenleseköpfe Epitaxial-Wafer
Stufenhöhe IC-Baugruppenmessung
MEMS und Nanotechnologie

Epiwafer-Messung

Übersicht
Aufgrund der zunehmenden Verwendung elektro-optischer Komponenten, die heute sowohl in der Telekommunikation als auch im Bereich der Displaytechnologien üblich sind, entwickelt sich die Epitaxie immer mehr zu einer Schlüsseltechnik für die Komponentenfertigung. Epitaxie ist das Aufbringen sehr dünner Halbleitermaterialschichten auf die Oberfläche eines Einkristall-Substrats. Jede Kristallschicht wird als Epischicht bezeichnet.

Festplatten-, MEMS- und Halbleiteranwendungen - Epitaxial-Wafer - Talysurf CCI Talysurf CCI
Berührungsloses Hochgeschwindigkeits-3D-Messsystem mit einer Auflösung von 10 pm (0,01 nm) und 1 Million Messpunkten. Für die Messung der Wafer-Rauheit vom Mikrometer- bis zum Ångstrom-Bereich.
Messung

Oberflächenrauheit
Die Oberflächenstruktur ist für Kunden wie für Lieferanten ein überaus wichtiger Parameter bei der Angabe der Qualität epitaxischer Halbleiter. Angesichts des derzeitigen Trends zu noch kleineren Schaltkreisen auf Wafern werden die Rauheitstoleranzen zunehmend enger. Zur Messung der in nm gemessenen Epiwafer-Oberflächenbeschaffenheit muss ein System mit sehr niedrigem Grundrauschen und sehr hoher Auflösung verwendet werden.

Nähere Einzelheiten hierzu erhalten Sie von dem für Sie zuständigen Vertriebsmitarbeiter
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