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| 表面粗糙度和形状测量 | ||||||||||||
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| Form Talysurf PGI 1240 Talysurf CLI系统 Talyseries粗糙度 µltra软件 Talymap软件 |
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| Surtronic Duo Surtronic 25 Form Talysurf Intra Form Talysurf电感系列 Form Talysurf PGI |
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粗糙度 | |
非球面 | ||||||||
| 波纹度 | |
标注尺寸 | ||||||||||
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| 形状 | |
规定容差 | ||||||||||
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| 轮廓 | |
二维分析 | ||||||||||
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台阶高度 | |
三维分析 | |||||||||
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粗糙度 | |
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波纹度 | |||||
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台阶高度 | |||||
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二维分析 | |||||
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三维分析 | |||||
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标注尺寸 | |||||
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- 高精度三维表面轮廓测量
- 相干相关干涉仪是非接触和非破坏性干涉仪
- 适合测量高度在1纳米和100微米之间的轮廓峰
- 0.01纳米的分辨率
- 快速获取和分析数据
Talysurf CCI 是如今可以使用的最精确的光学三维表面轮廓仪。它不仅具有显微镜的表面成像质量，而且还具有常规表面轮廓测量仪器的精确测量能力。
Talysurf CCI 是使用相干相关干涉测量技术的非接触表面测量系统。 它可以在10秒钟内测量完100万个数据点，分辨率为0.01纳米(0.1Å)。
