光学应用 - 光纤连接器形状测量

光纤连接器形状测量

概述
V槽光纤连接器采用许多材料制成，其中包括Zerodur®。此类材料的固体毛坯需要通过超高精度研磨进行加工。

组件的特征是具有V槽截面形状，此形状需要控制在亚微米级别，以便确保纤维正确对齐，从而使传输损耗达到最小。表面微粗糙度也是一个重要的流程控制参数，表面粗糙度需要达到纳米级。

Taylor Hobson的Form Talysurf非球面测量系统通过在“超级轮廓”（Ultra Contour）软件中进行自定义尺寸分析，可以
为V槽连接器提供理想的测量解决方案。请参阅以下Talysurf链接中的详细描述。

Form Talysurf PGI非球面测量系统
独特的接触测量技术可以为形状和表面粗糙度提供世界领先的精度级别。具有1/10λ形状精度、1/25λ形状可重复性以及1纳米RMS表面粗糙度的测量能力。

超级二维表面粗糙度分析软件
通过与组件的草拟数据直接进行比较来分析长度、角度和半径。自定义的自动例程通过流程控制的自动容差规定和报告功能，可以对间距、角度和其它关键
V槽尺寸特征进行测评。

如果当前的光学器件计量解决方案与您的特殊需求不直接相关，请与本地的Taylor Hobson销售办事处联系。我们有一组经验非常丰富的应用工程师，能够为此行业以及许多其它高精密度行业创建定制的系统。