表面纹理测量：方法：参数：仪器：对比样本

国际

ISO 1302： CD，几何产品规格(GPS) - 表面纹理图示

ISO 3274： 1996年，几何产品规格 - 表面纹理：剖面法 - 接触（测杆仪器）的标称特性

ISO 4287：1997年，几何产品规格(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 术语、定义和表面纹理参数

ISO 4288：1996年，几何产品规格(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 表面纹理测评的规则和方法

ISO 5436-1： 2000年，几何产品规格(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 标定 - 第1部分：测量标准

ISO 5436-2：2000年，几何产品规格(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 标定 - 第2部分：软传感器

ISO 11562： 1996年，几何产品规格(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 相位校正滤波器的计量特性

ISO 12085： 1996年，几何产品规格(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 图案参数

ISO 12179：2000年，几何产品规格(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 接触（测杆）仪器的标定

ISO 13565-1： 1996年，几何产品规格(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 具有分层功能特性的表面 - 第1部分：滤波和一般条件

ISO 13565-2： 1996年，几何产品规格(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 具有分层功能特性的表面 - 第2部分：使用线性材料比曲线的高度表征

ISO 13565-3： 1996年，几何产品规范(GPS) - 表面纹理：剖面法 - 具有分层功能特性的表面 - 第3部分：使用材料概率曲线的高度表征

德国

DIN 4760： 1982年， 形状偏差：概念：分类系统

DIN 4761： 1978年，表面特性；表面纹理的几何特性，术语，定义和符号

DIN 4762： 1989年，表面粗糙度；术语

DIN 4763：1981年，表面粗糙度参数数值的进展率

DIN 4764： 1981年，用于机械工程和照明工程的组件的表面；根据应力状态确定的术语。

DIN 4766： 第2部分，1981年，与制造方法类型关联的表面粗糙度；可达到的峰谷高度算术平均值。根据DIN 4768第1部分确定的Rz。

DIN 4766：第2部分，1981年，与制造方法类型关联的表面粗糙度；可达到的算术平均值。根据DIN 4768第1部分确定的Ra。

DIN 4768： 1990年，通过测杆仪器确定粗糙度参数Ra、Rz和Rmax；术语，测量条件。

DIN 4772： 1979年，通过剖面法测量表面粗糙度的电子接触式（测杆）仪器。

DIN 4774： 1981年，通过电子接触式测杆仪器测量波纹深度。

DIN 4775： 1982年，测量工件的表面粗糙度；视觉和触觉对比，接触式测杆仪器法。

DIN 4776： 1990年，用于说明粗糙度轮廓中材料部分的参数Rk、Rpk、Rvk、Mrl和Mr2；测量条件和测评方法

DIN4777： 1990年，电子接触式测杆仪器应用的轮廓滤波器；相位校正滤波器

选定的标准列表适用于形状测量

几何产品规范(GPS)
圆度

ISO 12181* 圆度
第1部分 圆度的术语、定义和参数
第2部分 规范执行机构

圆柱
ISO 12180 圆柱度
第1部分 圆柱形状的术语、定义和参数
第2部分 规范执行机构

*2001年1月8日的标准草案

有关ISO标准的全面详细资料，请访问www.iso.ch。